Индексированный MicroMesh™ SPINE Indexed MicroMeshпїЅ SPINE
|
 |
 |
Indexed MicroMesh™ Mounts обладают всеми преимуществами и особенностями обычных MicroMesh™ Mounts для микрокристаллической кристаллографии и дифракционных измерений, включая минимальное фоновое рассеивание среди коммерческих инструментов и зачерпывающее действие для простого извлечения суб-30 μm кристаллов.
Нумерация позволяет легче найти (и затем переместить) взятый кристалл на инструменте. Идентифицировав наиболее подходящие кристаллы на обычной микроскопе, вы затем легко обнаружите их под микрофокусным источником. Выполните поиск с высоким разрешением на луче и затем найдите заново и стреляйте в лучший кристалл без уменьшения разрешения.
Микрокристаллы из капли часто имеют более одной кристаллической формы/упаковки и разные формы могут дифрагировать с очень разным разрешением. Используйте высокое увеличение для идентификации и отстрела этих разных форм.
Нумерация позволяет легче найти (и затем переместить) взятый кристалл на инструменте. Идентифицировав наиболее подходящие кристаллы на обычной микроскопе, вы затем легко обнаружите их под микрофокусным источником. Выполните поиск с высоким разрешением на луче и затем найдите заново и стреляйте в лучший кристалл без уменьшения разрешения.
Микрокристаллы из капли часто имеют более одной кристаллической формы/упаковки и разные формы могут дифрагировать с очень разным разрешением. Используйте высокое увеличение для идентификации и отстрела этих разных форм.
Три стиля нумерованных инструментов MicroMesh, все с 25 μm отверстиями сетки.
 |
Первые два основаны на популярных MiTeGen 400/25 MicroMesh Mount. Область сетки разделена на четыре сектора и дополнительные диагональные ярлыки позволяют ориентацию передняя/задняя часть сетки и позиция кристалла однозначно определяется только в поле зрения 100 μm. В варианте 400/25-IN1, сектора пронумерованы. В варианте 400/25-IN2, номера заменены квадратными отверстиями 60 μm. Кристаллы, подвешенные на этих больших отверстиях иногда бывает легче увидеть.
Третий вариант имеет область сетки 300 μm , разделенную на девять пронумерованных областей 100 μm. Плоский верх этого инструмента позволяет легкое соскабливание/зачерпывание кристаллов со дна лунки или покровного стекла.
Для всех размеров расстояние от основания стержня до центра отверстия для кристалла - точно 18,5 мм и совместимо со стандартом SPINE. Допуск длины штырьков составляет всего 0,3 мм.
Штырьки отмечены с шагом в 2 мм и могут быть обрезаны до нужной длины, используя резец для стержней.
Они совместимы со всем стандартным рентгеновским оборудованием и могут быть вставлены в механический карандаш 0.7 мм или микроманипуляторы
Штырьки отмечены с шагом в 2 мм и могут быть обрезаны до нужной длины, используя резец для стержней.
Они совместимы со всем стандартным рентгеновским оборудованием и могут быть вставлены в механический карандаш 0.7 мм или микроманипуляторы
| Название | Код | Цена | Количество | |
| Indexed MicroMesh™ Mounts – 300/25-IN1 | M3-L18SP-300-IN1 | по запросу | 20 pcs. | |
| Indexed MicroMesh™ Mounts – 400/25-IN1 | M3-L18SP-400-IN1 | по запросу | 20 pcs. | |
| Indexed MicroMesh™ Mounts – 400/25-IN2 | M3-L18SP-400-IN2 | по запросу | 20 pcs. |
Информация представлена исключительно в ознакомительных целях и ни при каких условиях не является публичной офертой
